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Bengbu Yuhui 전시 단위
전시 단위가 밝은 화소, 색깔 교대 또는 접촉 편류를 보여줄 때, 대답은 패널에 수감되지 않습니다. 광학적인 층, 청결한 박판, 역광선 열, 드라이브 타이밍, 접촉 지상에 놓기 및 울안 구조는 결점을 함께 형성합니다, 그래서 Yuhui 기능은 제비, 협조, 물자 및 시험 기록에 돌려보냅니다.
교육 및 행사
Yuhui는 디스플레이 모듈 기업과 이를 지원하는 광학, 커버 글라스, 백라이트 업체를 통해 클러스터를 형성했으며, 지역 자료는 기업 사례와 제품 수준을 제시한다. 확인되는 범위는 모듈 및 부품 제조이지 휴대전화 조립, 지구 전체 전자산업 생산액, 또는 지구 단위 공급망 설명을 한 기업의 고객과 주문으로 바꿔 표현한 것이 아니다.
화면이 몇 초 만에 켜지지만 결함을 설명하려면 광학, 기계, 전기 및 소프트웨어 인터페이스가 거꾸로 표시되어야 합니다. 픽셀이나 드라이브, 조명 안내 또는 어셈블리의 어두운 모서리, 접지 또는 인클로저에서 터치 드리프트에서 밝은 지점이 나올 수 있습니다. 결함은 좌표, 로트 및 발생 시간에 묶여있을 때만 의미를 유지합니다.
핵심지리: 중소형 디스플레이 백엔드 작업, 광학, 백라이트, 터치 및 모듈 어셈블리를 연결하는 Bengbu Yuhui의 전자 영역
모듈 결함에 대한 6가지 소유권 포인트
어느 쪽이 먼저 좌표를 나타내는지
결함 좌표는 패널, 커버 및 모듈 방향으로 변환되며, 전기 트레이스와 광학 이미지는 인근 회사의 고정 공급을 추론하지 않고 하나의 일련 번호를 공유합니다.
- 패널과 광학적인 들어오는 제비 — 패널 좌표, 편광자, 커버, 접착제 및 필름은 로트 및 방향을 유지합니다.
- 청소, 정렬 및 적층 — 입자, 진공, 압력, 열 및 fiducials는 하나의 모듈에 해당합니다.
- 역광선과 구조상 마감 — LEDs, 가이드 판, 영화, 구조 접착제 및 잠금 고정되는 빛 및 긴장.
- 드라이브, 터치 및 장치 인터페이스 — 타이밍, 전원, 접지, 펌웨어 및 인클로저는 디스플레이 및 터치를 변경합니다.
- 광학, 노화 및 기계 테스트 — 회색 수준, 색도, 열, 하락 및 강선전도는 일련 번호를 따릅니다.
- Defect 지도와 제비 처분 — Coordinate, first operation, rework 및 release는 로트 경계를 정의합니다.
01 · 밝은 픽셀은 먼저 한 좌표에 머물러 있음을 증명합니다.
패널, 라미네이션 및 드라이브는 서로 다른 방향을 사용하므로 좌표가 변환되어야 합니다.
Yuhui 근원은 1개의 밝은 점은 패널, 회색 수준 및 협조에 아직도 돌려보내는 그러나, 중소 체재의 맞은편에 단위, 광학 및 덮개 유리 기능을 설치합니다. 들어오는 화소, 박판 파편, 드라이브 타이밍 또는 공급 소음은 다른 외관을 창조할 수 있습니다. 첫번째 빛은 그러므로 단위 오리엔테이션, 본, 발광성 및 일련 번호를 기록합니다.
스크린 플립 후에 기술자가 좌표를 재사용하면 라미네이션 파편이 패널 픽셀로 오인 될 수 있습니다. 흰색 전용 검사는 특정 회색에서 이미지 보존 또는 라인 결함을 놓치게됩니다. 고정 노출, 각도 및 주변 조건이없는 자동화 된 카메라는 발광성 변화를 영역 성장으로 간주 할 수 있습니다. 재작업 후에도 결함이 사라지지는 않습니다.
좌표 규칙은 패널 자료 코너에서 시작하여 라미네이션, 프레이밍 및 장치 어셈블리를 통해 모든 회전 및 미러를 정의합니다. 검사는 검은색, 흰색, 색상 및 여러 회색에 대한 소스 이미지 및 결정 상자를 저장한 다음 결함이 고정, 깜박임 또는 패턴에 종속되는지 확인합니다.
- 결함 이미지는 회색 수준, 방향 및 일련 번호를 유지합니다.
02 · 1개의 편광자 뻗기 방향은 전체적인 스크린의 색깔을 바꿀 수 있습니다
영화 방향, 전송 및 잔여 긴장 모양 보기 행동.
모듈 광학 스택에는 편광자, 보상 필름, 밝기 필름, 디퓨저 및 커버가 포함될 수 있으며 각각 방향, 두께, 전송 및 표면 요구 사항이 있습니다. 편광 축 오류는 명암과 색상을 전환합니다. 필름 흔들림 또는 국소 응력은 비스듬한보기에서 증가합니다. 로컬 광학 기능은 특정 재료에 대한 상수를 제공하지 않습니다.
들어오는 전송은 동안 틀린 절단 자료 또는 뻗기 방향 교대 가득 차있는 스크린 통과할지도 모릅니다. 보호 피막을 제거하는 것은 또한 정체되는 책임을 통해서 입자를 끕니다. 정상 전망 백색 검사는 비스듬한 누설 및 색깔 역환을 놓칠 수 있습니다. 작은 간격 다름은 역광선 또는 패널 실패 같이 광학적인 결함 보기를 만드는 더미 간격과 가장자리 압축을 바꿉니다.
들어오는 광학은 따로따로 째기 후에 축선, 간격, 연무, 전송, 표면 결함 및 보호 피막 국가를, 유지 부모 목록 및 웹 위치를 기록합니다. 첫번째 기사는 세트 발광성, 색온도 및 각에 색도 및 대조를 비교합니다. 바뀐 영화, 접착제 또는 덮개 잉크는 경신한 전망, 반영 및 장치 외관 체크를 방아쇠를 당깁니다.
- 광학 필름 제비와 절단 방향은 단위 기록에 함께 들어갑니다.
03 · 라미네이션 버블은 종종 진공 방출 후 그 원인을 밝힙니다.
청결, 정렬, 진공, 압력 및 치료는 하나의 인터페이스를 둡니다.
패널, 접촉 층 및 덮개는 청소, 지상 처리, 줄맞춤, 진공 누르고는 및 치료, 접착성 점성 및 열려있는 시간을 통해 온도에 변화합니다. 먼지는 조정 파편을 창조합니다, 가장자리 진입은 거품을 성장하고, 줄맞춤 과실은 까만 국경 및 접촉 지역을 이동합니다. Yuhui의 성분 폭은 아직도 실제적인 공용영역 과정 창을 요구합니다.
허용 가능한 방 입자 평균은 닦음, 이온화 노즐 또는 한 스테이션에서의 작업자 움직임이 아무 것도 제거하지 못한다는 것을 증명하지 못합니다. 진공 설정점에 도달하면 고르지 않은 접착 흐름을 통해 코너 공극을 남길 수 있습니다. 거품을 제거하기 위해 프레스 시간을 연장하면 패널 부하와 오버플로 위험이 추가되고, 즉각적인 검사는 습기가 많은 열에서 발생하는 미세 거품을 놓치게 됩니다.
박판 기록은 청소 소모품, 지상 에너지, 접착성 문제점 시간, 방 상태, 줄맞춤 이미지, 진공 및 압력 자취를 결합합니다. 첫번째 기사 및 물자 변화는 습기찬 열의 앞에 거품, 파편 및 가장자리 상태를 위한 지연한 체크를 받습니다. 협조와 형태학은 어떤 가공 조정든지의 앞에 입자, 공허 및 과잉을 구별합니다.
- 입자지도 및 적층 압력 추적은 한 조각으로 유지됩니다.
04 · 어두운 구석은 1개의 LED 온도 상승으로 시작할지도 모릅니다
광원, 가이드, 필름 및 구조상 압력은 균등성을 형성합니다.
백라이트는 LED, 회로, 라이트 가이드, 리플렉터, 디퓨저 및 밝기 필름을 서로 다른 광학 및 열 경로와 결합하여 에지 및 직접 배열합니다. LED 빈은 색 온도, 가이드 패턴 설정 분포 및 프레임 압력에 영향을 미치므로 필름을 워프 할 수 있습니다. 지역 백라이트 기능은 한 모듈의 휘도, 수명 또는 전력을 클러스터에 할당하지 않습니다.
울안이 LEDs를 나이 드는 수축성 영화와 더불어 열 흐름을, 바꾼 후에 획일한 방 온도 빛은 변화할 수 있습니다. 현재를 올리는 것은 일시적으로 노후화 그리고 색깔 다름을 가속하고 있는 동안 발광성을 복구합니다. 조정 워밍업, 조사 거리 및 본 없이, 의무 변화는 제비 변이 같이 봅니다; 과잉 잠금은 비 근원 밝은 헝겊 조각을 창조할 수 있습니다.
역광선 합격은 LED 궤, 현재, 가이드 및 필름 제비, 짜맞추는 힘 및 열 물자를 유지합니다. 격자 발광성 및 색도는 열에게 느끼기에 맞추어진 핫스팟과 더불어 낮은 흐리게 하기에, 그리고 열으로 안정되어 있는 측정됩니다. LED, 본, 구조 접착제 또는 장치 열 변화는 경신한 힘, 균등성 및 감퇴 비교를 방아쇠를 당깁니다.
- 휘도 매트릭스는 LED 전류 및 로컬 온도와 일치합니다.
05 · 동일한 추적에 1개의 줄 흔들림, 장소 힘 및 타이밍 때
드라이브 전압, 플렉스 연결 및 프로그램 시퀀스 제어 조명.
디스플레이 드라이브는 보드 데이터를 게이트, 소스 및 공통 전극 타이밍으로 변환합니다. 공급 레일, 클럭, 플렉스 및 커넥터는 모두 이미지에 영향을 미칩니다. 라인 결함은 패널, 본드 접점, 드라이버 또는 장치 신호 무결성에서 발생할 수 있습니다. 모듈 인터페이스 기능은 업계 이름에서 추론되지 않고 해상도, 새로 고침, 전압 및 연결을 위해 설정됩니다.
1개의 자료 선에 꾸준한 수준은 힘 연속, 리셋 지연 및 일시적인 처짐을 놓치고 있습니다. 널을 대체하는 것은 단순히 연결관 압력을 바꾸어서 결함을 제거할지도 모릅니다. 더 높은 드라이브 전압은 힘과 화소 긴장을 추가하고 있는 동안 찬 보유를 편해질 수 있습니다. 그들의 국가가 맞추어지지 않는 한 자동적인 발광성 또는 새로 고침 통제는 광학 적이고 및 전기 관측을 irreproducible 만듭니다.
조명 기구는 공급 한계, 시계, 공용영역 널 및 프로그램 개정을 고치고, 흔들림의 주위에 가로장, 리셋, 시계 및 열쇠 드라이브 자취를 붙잡습니다. 코드와 연결관 체크는 한 번에 1개의 목표를 바꾸는 짝지어주는 주기, 압축 및 접촉 저항을 유지합니다. 차, 뜨거운 다 회색 반복은 개정이 발광성, 힘 또는 생활로 결함을 이동하지 않았다는 것을 보증합니다.
- 파형, 펌웨어 개정 및 테스트 패턴 공유 타임스탬프.
06 · 접촉 편류는 장치 울안으로 포일을 지상에 놓기 따릅니다
센서 전극, 라미네이션, 접지 및 충전기 소음 설정 터치 위치.
터치 레이어는 커패시턴스 또는 다른 원리를 통해 위치를 감지하고 커버 두께, 접착제, 테두리 잉크, 접지 및 컨트롤러 매개 변수는 신호를 변경합니다. 장갑, 물, 충전 또는 부동 인클로저 변경 신호 대 잡음 및 기준선. 터치 구성 요소 기능은 모든 장치 인클로저 및 충전기 조합에 대한 내성을 확립하지 않습니다.
금속 인클로저가 접지를 변경하고 가장자리 나누기 또는 유령을 생성하기 전에 실험실 스 와이프가 통과 할 수 있습니다. 빠른 제스처를 잃는 동안 펌웨어 필터링은 거짓 접촉을 제거 할 수 있습니다. 평균 좌표 오류는 모서리, 가장자리 및 다중 손가락 교차를 숨 깁니다. 물 수량 및 경로 정의가없는 습식 테스트는 운영자간에 비교할 수 없습니다.
Touch 유효성 검사는 센터, 에지, 모서리, 다중 손가락 및 빠른 스와이프에 걸쳐 표준 트랙을 사용하여 원시 신호 및 좌표를 베어 모듈, 조립 장치, 충전, 습식 및 장갑 상태로 기록합니다. 그라운드 포일, 차폐, 인클로저 코팅 및 펌웨어에는 구성 ID가 있습니다. 변경된 필터는 하나의 시연 제스처가 아닌 대기 시간, 휴식 시간 및 유령을 다시 확인합니다.
- 터치 트랙은 제스처, 노이즈 소스 및 접지 구성을 유지합니다.
07 · 깨진 유리가없는 드롭은 여전히 하나의 연결을 변경할 수 있습니다.
충격, 열 순환 및 습도는 시간이 지남에 따라 잠재적인 결함을 나타냅니다.
모듈 신뢰성은 깨진 유리에 국한되지 않습니다. 낙하 및 비틀기는 커넥터, 본드 영역, 접착제 및 프레임 압력을 변경하는 반면, 습기 찬 열과 사이클링은 거품, 부식 및 수축을 촉진합니다. 장치는 질량,지지 및 인클로저 강성이 다르므로 베어 모듈 및 조립 된 장치 테스트가 서로 다른 경계에 도달합니다.
긴장 후에 1개의 정상적인 불이 켜지는 것은 압력, 감기 또는 최신 하락의 밑에 나타나는 간헐적인 접촉을 놓칠 수 있습니다. 외관 단지 체크는 기준선과 역광선 힘을 놓치습니다. 더 두꺼운 거품은 가장자리 압력과 누설을 증가하고 있는 동안 하락 생존을 개량할지도 모릅니다. 중간 체크 없는 연속적인 긴장은 결점의 첫번째 외관을 잃습니다.
이 계획은 드롭 자세, 트위스트 지지대, 습도 및 장치에서의 사이클링을 정의하여 각 단계 후에 외관, 디스플레이, 터치, 연결 저항 및 휘도를 확인합니다. 샘플은 재료 및 조립 구성을 유지하며 분해는 비파괴적으로 시작됩니다. 구조 강화는 또한 누설, 두께, 터치 및 열 경로를 재확인합니다.
- 스트레스 전후에 좌표, 저항 및 광학 값을 비교합니다.
08 · 수율 번호가 결함 분포도로 펼쳐져야 합니다.
좌표, 작동, 재료 및 재작업은 수율 변화를 설명 할 수 있습니다.
지역 기업 수와 산출은 Yuhui 송이를 제조 제비 수확량 아닙니다 기술합니다. 단위 수확량은 또한 크기, 해결책, 결점 한계, 표본 추출 및 재생산 규칙에 변화합니다; 백분율은 입력, 첫번째 시험 또는 마지막 선적을 분할할지도 모릅니다. 결점은 화소, 파편, 거품, 색깔, 접촉 및 연결 결함을 분리합니다.
마지막 수확량 혼자 청소가 입자 또는 연결 손상을 추가하는 동안, 반복적으로 reworked 단위를 만듭니다. 자유로운 원본 이름은 백색 반점, 파편 또는 박판 결함으로 1개의 거품을 나누었습니다. 추가한 탐지가 일시적으로 수를 낮추는지도 모르는 그러나, 수확량은 이완한 한계를 통해서 상승할 수 있습니다.
로트 보드는 코드, 정의, 좌표, 스테이션 및 이미지와 함께 입력, 첫 번째 테스트, 재 작업, 재 테스트 및 선적을 분리합니다. 재료 또는 매개 변수 변경은 한 가지 제한에 따라 비교되며 추적은 웹 위치, 챔버, 고정 장치 및 교대로 이동합니다. 릴리스 상태 격리 범위, 재 작업 수 및 샘플링 기준, 지구 수치는 년과 인구를 유지하는 동안.
- Lot 처분은 결함 유형과 첫번째 외관 가동을 따릅니다.
소스 및 읽기 노트
디스플레이 결과는 결함 등급, 좌표, 회색 수준, 뷰, 휘도 및 온도를 유지합니다. 재료 로트, 적층 매개 변수, 드라이브 개정 및 장치 인터페이스는 별도로 유지됩니다. 지역 회사와 출력은 클러스터를 정의하지만 한 모델에 대해 수율, 고객 또는 납품 상태를 제공하지 않습니다.
- 국가 명단이 확인하는 것은 Yuhui 디스플레이 모듈이지 Bengbu의 모든 전자산업이 아니다.
- 로컬 소스 이름 모듈, 광학 부품 및 재료 엔티티는 별도로; 이러한 제품 수준은 하나의 장치 기능으로 병합되지 않습니다.
- 지역 공급 체인 설명은 지역적이며 모든 회사에 대해 동일한 고객이나 주문을 증명하지 않습니다.
- 밝은 화소, 거품, 색깔 교대 및 접촉 편류는 다른 견본 및 시험을 요구합니다; 마지막 수확량은 각 실패 원인을 설명할 수 없습니다.
관련 기업
이 회사들은 공공 정보에 의해 지원되는 지역 관련 산업 역할을합니다. 주문은 순위가 아니며, 승인, 파트너십 또는 보증을 의미하지 않으며, Hello China는 거래에 참여하거나 보장하지 않습니다.
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- 안후이 Anhao 광전자 공학 기술 Co., 주식 회사. — Yuhui 송이 물자는 유사한 회사명에서 위치를 추론하기 보다는 오히려 Anhao의 국부적으로 산업 관계를 확인합니다. 제품 방향은 이름에 의해 추론되지 않습니다.
- 안후이 Dijing 광전자 공학 기술 Co., 주식 회사. — Yuhui 정부는 직접 실재물 및 국부적으로 제조 관계를 확인하는 Dijing 단위 기초 및 회사 주소를 기록합니다.
- Bengbu Pengdian 광학 기기 Co., 주식 회사 — 첨단 기술 등록부는 Pengdian의 법인을 확인하고 프로젝트 자료는 광학 및 정밀 가공 활동을 Bengbu에 연결합니다. Bengbu 광학베이스는 식별 할 수 있습니다.
- 회사 기록 수정 또는 제거 요청 — 요청은 사람이 검토하고, 확인 후 즉시 처리하며, 무료이며 상업적 협력과 관련이 없습니다.
소스
원 출판기관을 통해 날짜, 범위와 정의를 확인한다. 공개 자료는 거래를 보장하지 않는다.
- 2022년 SME 클러스터 목록 — 산업 정보 기술부
- 2025년 SME 클러스터에 대한 리뷰 공지 — 산업 정보 기술부
- 첫 번째 검토된 SME 군집 목록 — 산업 정보 기술부
- 디스플레이 모듈 기업, 제품 수준 및 클러스터 범위 — Bengbu의 Yuhui 지역 정부
- 국가 디스플레이 모듈 클러스터 ID 및 엔터프라이즈 예제 — Bengbu의 Yuhui 지역 정부
- 안후이 새로운 전시 기업 및 기업 정보 — 안후이 산업 정보 기술부